电子背散射衍射EBSD测试检测

  • 国家
    日本电子
  • 型号
    JSM7400 探头Pegasus XM2 EBSD
  • 测试项目
    织构和取向差分析;晶粒尺寸及形状分布分析;晶界、亚晶及孪晶界性质分析;应变和再结晶的分析;相签定及相比计算。
  • 样品要求
    块体: 5mm≤长≤15mm, 5mm≤宽≤15mm, 1mm≤厚度≤15mm; 测试面平整光滑

 样品要求:

样品高度小于15mm,直径小于30mm;

固体干燥样品,样品上下表面整洁及其平整,打磨之后并抛光。

 
● 应用范围:
应用于各种极具挑战性的材料的形貌观察、元素组成和分布测试、结构和取向分析。如金属、纳米颗粒和粉体、纳米管和纳米线等各种纳米材料、多孔物质(如硅、羟基磷灰石)、 塑料电子器件、玻璃基体材料、有机材料、高分子物质、金刚石薄膜、半导体截面、晶体材料、生物样品、各类薄膜材料和截面等。
 
● 技术参数:
1.电镜分辨率:
高真空:1.0nm @ 15kV;1.6nm @ 1kV。
低真空:1.5nm @ 10kV;1.8nm @ 3kV
2.电镜加速电压:200V-30kV
3.电镜着陆电压:50V-30kV
4.束流大小:0.6pA-100nA
 
● 合作案例:
 
● 注意:委托测试单务必随样寄过来,以便第一时间提供测试服务。

您可能也喜欢