X射线衍射仪测试-XRD测试

  • 国家
    日本理学
  • 型号
    SMARTLAB9
  • 测试项目
    样品的物相分析(定性分析)晶粒尺寸测定、分析纳米粒度大小及粒径分布物相定量分析薄膜物相鉴定
  • 样品要求
    粉末样品要求:干燥、在空气中稳定,粒度均匀,粒径小于20μm,粉末样品量约需1g; 块状样品要求:测试面清洁平整,板状、片状,带衬底材料的薄膜或带基材的镀层等原始形状,厚度≤5mm,10MM≤直径≤15mm;
XRD测试_物相分析案例以及分析步骤

理学SmartLab型智能X射线衍射仪是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪,它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance,一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。

 样品要求:

粉体样——不能少于10mg-15mg;

薄膜样——长宽都为1.5-1.7厘米,厚度小于5毫米;

固体样——测试面清洁平整些,板状、片状、丝状均可,厚度小于0.3cm,直径小于1cm。
 
● XRD视频培训教程:链接: https://pan.baidu.com/s/1eSPb7My 密码: abt7
 
● 仪器主要特点:
智能X射线衍射仪SmartLab系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域
可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料
可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品
● 技术参数:
1.X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶
2.测角仪为水平测角仪
3.测角仪最小步进为1/10000度,最高精度测角仪(双光学编码、直接轴上定位)(理学专利)
4.测角仪配程序式可变狭缝
5.自动识别所有光学组件、样品台(理学专利)
6.CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)(理学专利)
● 注意:数据分析仅限于粉末固体样,薄膜样因其特殊性无法提供分析服务。委托测试单务必随样寄过来,以便第一时间提供测试服务。

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