XRF检测测试-波长型X射线荧光光谱

  • 国家
    荷兰帕纳科
  • 型号
    Zetium
  • 测试项目
    定性半定量分析元素范围F—U。
  • 样品要求
    1.粉末:提供1g以上,或按体积装实2ml以上样品量。过200目,样品干燥。 2.块体、薄膜:直径在12-50mm(推荐32-50mm)之间,高度低于10mm,测试面平整、不掉粉。

主要规格:

采用LiF200、Ge111、PE002、PX1、LiF220晶体,优化准直器,超薄50um铍窗,4KW端X光管,配备流气探测器、Hiper高能闪烁探测器、Deplex复合探测器,以及6位置面罩转换器(适合尺寸10-37mm样品),68位自动进样器。提高了分析元素的灵敏度,保证了测量数据的高重现性。

 

原理方法:

试样中的原子受到适当的高能辐射激发,放射出该原子所具有的特征X射线,其强度大小与试样中该元素的质量分数成正比。通过测量特征X射线的强度来定性定量分析试样中各元素的质量分数。
 

技术指标:

4KW端X光管/50um铍窗/5块晶体/3块准直器/4块滤光片。分析浓度范围从ppm至100%,SuperQ软件下,Omnian、Stratos等多种数据分析方法。

 

应用范围:

对固体、粉末及液体样品进行定性及无标样Omnian半定量分析,可对矿物、半导体、金属、水泥、石化产品进行快速定性半定量分析,可测元素范围从9F—92U,测定含量范围从ppm至100% 。
 
 

样品要求:

1.粉末样品:提供1g以上,或按体积装实2ml以上样品量。过200目,样品干燥。
2.块体、薄膜样品:直径在12-50mm(推荐34-50mm)之间,高度低于20mm,测试面平整、不掉粉。
 

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