主要规格：
采用LiF200、Ge111、PE002、PX1、LiF220晶体，优化准直器，超薄50um铍窗，4KW端X光管，配备流气探测器、Hiper高能闪烁探测器、Deplex复合探测器，以及6位置面罩转换器（适合尺寸10-37mm样品），68位自动进样器。提高了分析元素的灵敏度，保证了测量数据的高重现性。
原理方法：
试样中的原子受到适当的高能辐射激发，放射出该原子所具有的特征X射线，其强度大小与试样中该元素的质量分数成正比。通过测量特征X射线的强度来定性定量分析试样中各元素的质量分数。
技术指标：
4KW端X光管/50um铍窗/5块晶体/3块准直器/4块滤光片。分析浓度范围从ppm至100%，SuperQ软件下，Omnian、Stratos等多种数据分析方法。
应用范围：
对固体、粉末及液体样品进行定性及无标样Omnian半定量分析，可对矿物、半导体、金属、水泥、石化产品进行快速定性半定量分析，可测元素范围从9F—92U，测定含量范围从ppm至100% 。
样品要求：
1.粉末样品：提供0.1g以上，或按体积装实1ml以上样品量。过200目，样品干燥。
2.块体、薄膜样品：直径在12-50mm（推荐34-50mm）之间，高度低于20mm，测试面平整、不掉粉。
