TEM球差透射电镜测试检测

  • 国家
    美国 FEI
  • 型号
    Titan ETEM G2
  • 测试项目
    形貌、晶格条纹、原子相、明暗场、高倍率能谱分析
  • 样品要求
    拍摄高分辨图像的样品要求厚度在10 nm以下,最好5 nm以下才能获得较好的原子像。 粉末样品,要求样品均匀分散在支持膜上,或者最好是悬空的(比如使用微栅碳支持膜),并且干燥,能够区分支持膜正反面。 块体样品,要求样品大小为直径3 mm的圆,厚度为200 nm以下;金属样品建议使用FIB的办法来进行减薄,这样获得快捷方便。可以测试磁性样品,但分辨率会有所下降。

  拍摄高分辨图像的样品要求厚度在10 nm以下,最好5 nm以下才能获得较好的原子像。

  粉末样品,要求样品均匀分散在支持膜上,或者最好是悬空的(比如使用微栅碳支持膜),并且干燥,能够区分支持膜正反面。

  块体样品,要求样品大小为直径3 mm的圆,厚度为200 nm以下;金属样品建议使用FIB的办法来进行减薄,这样获得快捷方便。可以测试磁性样品,但分辨率会有所下降。

  Titan ETEM G2以其卓越的产品设计和已获证明的具有突破性的性能和结果成为全球各地杰出研究人员的首选扫描/透射电子显微镜 (S/TEM)。是全球功能最强大的商用 S/TEM之一,使用革命性的 60-300 kV 电子镜筒,通过 TEM 和 STEM 模式在各种材料和工作条件下进行亚原子级的探索和研究。

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