原位XRD测试-高温XRD测试低温XRD测试

  • 国家
    日本·理学
  • 型号
    Rigaku,TTR3
  • 测试项目
    相变研究,高温范围室温-1200℃之间;低温范围35K-300K
  • 样品要求
    最好是粉末样30mg,块体样,厚度≤5mm,10MM≤直径≤15mm,测试面平整,且用小纸条标记出测试面的反面
 

  具体参数:

  1、X-射线发生器:最大输出功率18KW,稳定度:±0.01%

  2测角仪系统: 扫描方式:θ-θ可联动或单动,

  角度最小步进: 1/10000°

  3、功能附件:

  (1)低温附件:温度范围35K-300K,氦循环制冷,最大降温速度5K/分钟,分辨度0.1K

  (2)高温附件:最高温度:室温---1200°C;样品不熔化

  (3)小角度测量附件:2θ从0.1°到3°

  (4)薄膜测量附件


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