透射电镜TEM测试:薄膜、截面、块体样品FIB制样+测试

  • 国家
    美国
  • 型号
    FEI Tecnai G2 F20
  • 测试项目
    薄膜样品截面样品块体样品形貌高倍、衍射、能谱(点线面),擅长截面样品测试
  • 样品要求
    根据不同的样品采取不同的制样方法,一般有离子减薄,双喷,FIB切割,请联系业务人员,根据样品属性具体讨论制样方案

加速电压:200 kV

点分辨率:0.24 nm

线分辨率:0.102 nm

STEM分辨率:0.19 nm

分析元素范围:B - U

主要功能TEM、HRTEM、EDS(line,mapping)、SAED,注意原子级别分辨率需要用球差透射电镜

根据不同的样品采取不同的制样方法,一般有离子减薄,双喷,FIB切割

填写委托测试单样例:

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